華測高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

   雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。

    采用開發(fā)電子護系統(tǒng)，設備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。

   系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。

   高度的輸出與測量規(guī)格，保障檢測結果的，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的測試。

   針對高溫四探針測試儀做了多項設計，測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)所新開啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。