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高溫鐵電材料測試儀的主要用途及介紹

更新時(shí)間:2019-05-27      點(diǎn)擊次數(shù):1555

高溫鐵電材料測試儀用途:

 1、高溫電壓提高至:0-20KV

 2、高溫頻率提高至:0-15KHZ

 3.計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制直接讀出數(shù)據(jù),測試準(zhǔn)確

 4. 配置高壓信號(hào)發(fā)生器,可測量陶瓷材料的鐵電。

 5.不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù),還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞、鐵電保持的測試,電阻測量,漏電流測量。

 

產(chǎn)品介紹

高溫鐵電測試儀用于鐵電體的鐵電測量,。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和,并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。

鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。

 

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)
  • 鐵電疲勞測量
  • 鐵電保持測量
  • 電阻測量
  • 漏電流測量
  • 三維移動(dòng)平臺(tái)

 

 

軟件功能

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測試需求,具備穩(wěn)定性與性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),。兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面;

即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無需等待;

圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對(duì)狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);

使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

 

 

硬件支持

  • 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
  • 集成打印機(jī)接口,大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
  • 支持16G內(nèi)存,60G固體硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流等特性。
  • 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。
  • 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。

 

 

技術(shù)參數(shù)

1、電壓范圍:±30V(可擴(kuò)展至±4KV)

2、輸出電流峰值:±1A

3、大負(fù)荷電容:1μF

4、動(dòng)態(tài)電滯回線測試頻率:0.001Hx~100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試:10pA~100mA

6、小脈沖寬度:25ns

7、上升時(shí)間:7ns

8、極化測試到:10fC

9、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫~1200℃電滯回線測定

 

 

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