北京華測實驗儀器電弱點(diǎn)測試儀的特點(diǎn)及工作原理 

   電弱點(diǎn)測試主要特點(diǎn)：

該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無需將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實的反應(yīng)薄膜的質(zhì)量水平。有效的保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確、復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制。遇到電弱點(diǎn)時電壓切斷動作速度。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)， 復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多層保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù)，實驗平臺門開啟保護(hù)。

      電弱點(diǎn)測試儀工作原理：

本測試儀實驗電壓是0－20kV交直流電壓，其波動為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點(diǎn)時擊穿，擊穿點(diǎn)自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。